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化工儀器網>產品展廳>半導體行業專用儀器>集成電路測試與分選設備>探針卡>TZ UltraSharp-T270E 大高寬比硅基探針

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TZ UltraSharp-T270E 大高寬比硅基探針

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       探真納米科技成立于2016年4月,國內首家專注于全品類原子力顯微鏡(AFM)探針研發、生產與銷售 的高科技企業。公司同時致力于為客戶提供更優質的微納加工工藝咨詢與服務,在多個微納領域積極布局,開展前沿產品的研發工作。

       公司的百級超凈間內建立了完全自主可控的全流程AFM探針研發、生產、檢測的產線,配備了專業微納加工與檢測設備20余臺,為產品的研發與生產提供了堅實的設備保障。

        自成立以來,探真納米科技憑借強大的研發實力,已自主開發及代研二十多項產品和項目,累計獲得7項技術專利(專利號:CN113371677B、CN112158794B、CN112162115B、CN207396531U、CN105189821B、CN113049853A、CN115308826A等),成功的填補國內微納加工領域多項技術空白。公司的AFM探針產品已經獲得ISO9001認證,探針成像效果出色,不僅性能上優于進口同類產品,更以高性價比成為國產替代理想選擇。

原子力顯微鏡探針

探真納米科技自主研制的TZ UltraSharp系列大高寬比硅基探針,具有優良的性能和創新的技術優勢,該系列產品不僅在分辨率、使用壽命等關鍵指標上優于進口同類產品,更以高性價比優勢,成為AFM探針國產替代的優選。


TZ UltraSharp系列大高寬比硅基探針產品特點:

1. 整體圓錐形針尖,擁有大高寬比,適用于各種領域采用輕敲模式的更多測試場景形貌檢測應用。如: 深溝槽、陡直臺階等。

2. 探針針尖半錐角小,只有~5°。針尖尖更細長尖銳,相比棱錐型探針,同樣的磨損后依然很尖,使用壽命更長。

3. 具有噪音低,可以掃描單原子層二維材料和亞納米的原子級臺階。

4. 針托兩側側壁陡直,更容易夾取;而普通探針針托側壁是斜坡結構,夾取時容易掉落。

5. 連接懸臂梁的針托末端是臺階結構設計,可以有更廣的激光入射角,對光路更加友好。


大高寬比硅基探針

大高寬比硅基探針








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