| 產地類別 | 國產 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 化工,能源,電子/電池,公安/司法,制藥/生物制藥 |
澤攸科技臺階儀JS100B
產品介紹
澤攸科技半自動臺階儀JS100B是高精度測量設備，打破了國外技術壟斷，適用于半導體制造中的國產化進程。該設備采用一體花崗巖結構，確保測量的穩定性與可靠性。配備兩個彩色攝像頭，可無畸變地觀察樣品和針尖，實現特征區域精確定位。JS100B具備厚度、粗糙度、翹曲度及薄膜應力測量功能，并支持3D掃描成像和多點掃描應用，廣泛應用于刻蝕、沉積、薄膜等領域。
刻蝕、沉積和薄膜等厚度測量
薄膜多晶硅等粗糙度、翹曲度等材料表面參數測量
各式薄膜應力測量
3D掃描成像
計劃任務和多點掃描
應用領域
產品組成
突破三大核心技術
產品特色
關鍵技術指標
案例應用
18nm樣品
68um樣品
采購中心
化工儀器網