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化工儀器網>產品展廳>物理特性分析儀器>無損檢測>其它無損檢測儀器/設備> A36雙晶64晶片線性探頭

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A36雙晶64晶片線性探頭

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關于EVIDENT

每一項發現都始于清晰的認知。作為奧林巴斯(Olympus),我們在顯微技術領域傳承百年光學品質,始終賦能全球頂尖科學家、醫生與工程師,讓他們看得更多、知得更深、成就更大。

 

如今,作為 Evident,我們正基于這一傳承打造新一代顯微成像解決方案。我們的工作核心是科學創新 —— 以光學智能突破清晰認知的邊界。我們的先進平臺將光學技術與數字創新相結合,助力您從觀察到洞察的過程中步履堅定。無論是推動新療法研發、確保產品完整性,還是探索未知領域,Evident 都在創造易用的成像工具,幫助您預見未來。

 

歡迎與我們聯系,探索我們如何助力您在生命科學研究、數字病理學、材料科學、質量控制檢測等領域實現目標。








奧林巴斯工業內窺鏡,工業顯微鏡,無損檢測產品,XRF和XRD分析儀

產地類別 進口 價格區間 面議
應用領域 石油,能源,電子/電池,鋼鐵/金屬,電氣

在檢測過程中,針對于大壁厚(如200mm)的焊縫檢測,往往對于檢測設備有著更高層次的要求。為了更好的面對在檢測時遇到的各種復雜情況及調整,基于A26 DLA 探頭成功的應用實踐基礎上,Evident在近期發布了全新A36雙晶64晶片線性探頭

全新A36雙晶64晶片線性探頭的推出,將在大壁厚情形下,協助塑造更為優質的焊縫檢測解決方案。

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更強穿透力


A36雙晶64晶片線性探頭通過將通道數量加倍,進而將其提升了一個檔次,從而產生雙 64 通道的線性配置。雙晶64晶片線陣一發一收探頭具有高陣元數的配置,搭配使用 OmniScan™ X3 64相控陣探傷儀,非常適合檢測大壁厚的高衰減材料焊縫檢測。OmniScan™ MXU 軟件現在提供不同類型的聚焦選項,即通過電子方式實現工件中不同深度區域聚焦。在相控陣模式下,有助于將焦點位置設定在焊縫內相關的區域。


與OmniScan™搭配使用,

如虎添翼


在使用A36雙晶64晶片線性探頭時,搭配OmniScan™ X3相控陣探傷儀,在根據檢測工藝要求的前提下,除了可以創建相控陣(PA)聚焦法則外,也可以設置全聚焦(TFM)模式和相位相干成像(PCI)組。在掃查計劃菜單中,亦可以設置平板、管棒材等各種幾何形狀的工件。


A36雙晶64晶片線性探頭提供 2.25MHz、4MHz 和 5 MHz 三種頻率,SA36 楔塊提供聚焦深度40 毫米和 200 毫米兩種規格,且支持外徑8.625英寸至平面的工件類型檢測。




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